Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Se girro 2015年5月29日 12 阅读 0 评论 工程 Defects in High-k Gate Dielectric Stacks: Nano-Electronic Se AuthorEvgeni Gusev Print length: 492 Publication date: 2006-02-01 ISBN-10: 1402043651 ISBN-13: 9781402043659 代发服务PDF电子书10元立即求助