Atomic Scale Characterization and First-Principles girro 2014年1月24日 16 阅读 0 评论 计算机、互联网 Atomic Scale Characterization and First-Principles Studies of SiN Interfaces (Springer Theses) Hardcover: 176 pages Publisher: Springer (April 8, 2011) Language: English ISBN-10: 144197816X 代发服务PDF电子书10元立即求助